|
Author |
Title |
Year |
Publication |
Volume |
Pages |
Links |
|
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Ptitsina, N. G.; Riger, E. R. |
Effect of electron-electron collisions on the trapping of free carriers by shallow impurity centers in germanium |
1986 |
Sov. Phys. JETP |
64 |
889-897 |
|
|
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Ptitsina, N. G. |
Observation of the free-exciton spectrum at submillimeter wavelengths |
1972 |
JETP Lett. |
16 |
161-162 |
|
|
Гершензон, Е. М.; Гольцман, Г. Н.; Елантьев, А. И.; Кагане, М. Л.; Мултановский, В. В.; Птицина, Н. Г. |
Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
17 |
1430-1437 |
|
|
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Semenov, A. D. |
Submillimeter backward wave tube spectrometer for measuring superconducting film transmission |
1983 |
Pribory i Tekhnika Eksperimenta |
26 |
134-137 |
|
|
Gershenson, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Elant'ev, A. I.; Kagane, M. L.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors |
1983 |
Sov. Phys. Semicond. |
17 |
908-913 |
|