toggle visibility Search & Display Options

Select All    Deselect All
 | 
Citations
 | 
Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Multanovskii VV, Ptitsina NG. Cross section for binding of free carriers into excitons in germanium. JETP Lett. 1981;33(11):574.
toggle visibility
Гершензон ЕМ, Гершензон МЕ, Гольцман ГН, Семенов АД, Сергеев АВ. Неселективное воздействие электромагнитного излучения на сверхпроводящую пленку в резистивном состоянии. Письма в ЖЭТФ. 1982;36(7):241–4.
toggle visibility
Гершензон ЕМ. Воздействие электромагнитного излучения на сверхпроводящую плёнку ниобия в резистивном состоянии. In: Тезисы докладов 22 Всесоюзной конференции по физике низких температур.; 1982. p. 79–80.
toggle visibility
Gershenzon EM, Goltsman GN, Multanovskii VV, Ptitsina NG. Kinetics of submillimeter impurity and exciton photoconduction in Ge. Optics and Spectroscopy. 1982;52(4):454–5.
toggle visibility
Gershenzon EM, Gershenzon ME, Gol'tsman GN, Semenov AD, Sergeev AV. Nonselective effect of electromagnetic radiation on a superconducting film in the resistive state. JETP Lett. 1982;36(7):296–9.
toggle visibility
Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Multanovskii VV, Ptitsina NG. Kinetics of electron and hole binding into excitons in germanium. Sov Phys JETP. 1983;57(2):369–76.
toggle visibility
Гершензон ЕМ, Гольцман ГН, Елантьев АИ, Кагане МЛ, Мултановский ВВ, Птицина НГ. Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках. Физика и техника полупроводников. 1983;17(8):1430–7.
toggle visibility
Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Semenov AD. Submillimeter backward wave tube spectrometer for measuring superconducting film transmission. Pribory i Tekhnika Eksperimenta. 1983;26(5):134–7.
toggle visibility
Gershenson EM, Gol'tsman GN, Elant'ev AI, Kagane ML, Multanovskii VV, Ptitsina NG. Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors. Sov Phys Semicond. 1983;17(8):908–13.
toggle visibility
Банная ВФ, Веселова ЛИ, Гершензон ЕМ. Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии. Физика и техника полупроводников. 1983;17(10):1896–8.
toggle visibility
Select All    Deselect All
 | 
Citations
 |