| 
Citations
 | 
   web
Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G. N., Multanovskii, V. V., & Ptitsina, N. G. (1981). Cross section for binding of free carriers into excitons in germanium. JETP Lett., 33(11), 574.
toggle visibility
Гершензон, Е. М., Гершензон, М. Е., Гольцман, Г. Н., Семенов, А. Д., & Сергеев, А. В. (1982). Неселективное воздействие электромагнитного излучения на сверхпроводящую пленку в резистивном состоянии. Письма в ЖЭТФ, 36(7), 241–244.
toggle visibility
Гершензон, Е. М. (1982). Воздействие электромагнитного излучения на сверхпроводящую плёнку ниобия в резистивном состоянии. In Тезисы докладов 22 Всесоюзной конференции по физике низких температур (pp. 79–80).
toggle visibility
Gershenzon, E. M., Goltsman, G. N., Multanovskii, V. V., & Ptitsina, N. G. (1982). Kinetics of submillimeter impurity and exciton photoconduction in Ge. Optics and Spectroscopy, 52(4), 454–455.
toggle visibility
Gershenzon, E. M., Gershenzon, M. E., Gol'tsman, G. N., Semenov, A. D., & Sergeev, A. V. (1982). Nonselective effect of electromagnetic radiation on a superconducting film in the resistive state. JETP Lett., 36(7), 296–299.
toggle visibility
Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G. N., Multanovskii, V. V., & Ptitsina, N. G. (1983). Kinetics of electron and hole binding into excitons in germanium. Sov. Phys. JETP, 57(2), 369–376.
toggle visibility
Гершензон, Е. М., Гольцман, Г. Н., Елантьев, А. И., Кагане, М. Л., Мултановский, В. В., & Птицина, Н. Г. (1983). Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках. Физика и техника полупроводников, 17(8), 1430–1437.
toggle visibility
Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G. N., & Semenov, A. D. (1983). Submillimeter backward wave tube spectrometer for measuring superconducting film transmission. Pribory i Tekhnika Eksperimenta, 26(5), 134–137.
toggle visibility
Gershenson, E. M., Gol'tsman, G. N., Elant'ev, A. I., Kagane, M. L., Multanovskii, V. V., & Ptitsina, N. G. (1983). Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors. Sov. Phys. Semicond., 17(8), 908–913.
toggle visibility
Банная, В. Ф., Веселова, Л. И., & Гершензон, Е. М. (1983). Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии. Физика и техника полупроводников, 17(10), 1896–1898.
toggle visibility