| |
Author |
Title |
Year  |
Publication |
Volume |
Pages |
Links |
|
|
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Ptitsina, N. G. |
Submillimeter spectroscopy of semiconductors |
1973 |
Sov. Phys. JETP |
37 |
299-304 |
|
|
|
Гершензон, Е. М.; Гольцман, Г. Н.; Елантьев, А. И.; Кагане, М. Л.; Мултановский, В. В.; Птицина, Н. Г. |
Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
17 |
1430-1437 |
|
|
|
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Semenov, A. D. |
Submillimeter backward wave tube spectrometer for measuring superconducting film transmission |
1983 |
Pribory i Tekhnika Eksperimenta |
26 |
134-137 |
|
|
|
Gershenson, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Elant'ev, A. I.; Kagane, M. L.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors |
1983 |
Sov. Phys. Semicond. |
17 |
908-913 |
|
|
|
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Mirskii, G. I. |
Submillimeter backward-wave-tube spectrometer-relaxometer |
1987 |
Pribory i Tekhnika Eksperimenta |
30 |
131-137 |
|
